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來源:http://www.sushilrana.com/    日期:2017-07-22    浏覽量:載入中...

3.電介法露點儀

2.電傳感器式露電儀

应用五氧化二磷等资料吸濕後剖析成極性分子,從而在電極上積累電荷的特性,設計出树立在絕對含濕量單位制上的電解法微水份儀。现在國際上最高精度達到±1.0℃(露點溫度),普通精度可達到±3℃以内。

1.鏡面式露點儀

应用晶體沾濕後振蕩頻率改變的特性,可以設計晶體振蕩式露點儀。這是一項較新的技術,现在尚處于不非常成熟的階段。國外有相關産品,但精度較差且本钱很高。

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在測量原理上,技術人員認定鏡面結露的办法是最间接且精度最高的办法。鏡面露點儀在技術大将引進近代技術成份。如我們研制的冷鏡式激光露點儀初次接纳了激光準直技術和CCD技術,在露層鉴别、露霜圖像識别技術上走到了天下前沿。專業人員在傳統的傳感东西料研讨(如氧化鋁资料、氯化锂资料、高分子资料和陶瓷资料)基礎上,用完全差别的技術手腕,陸續發展出許多間接測量氣體中微量水份的方法办法,解決了差别領域和差别環境中的微水份測量問題。

随着現代科學技術的發展,人們紛紛把光電技術、新资料技術、紅外技術、微波技術、微電子技術、光纖技術、聲波技術乃至納米技術應用到氣體中水份的測量,使水份測量這一陈旧領域煥發出芳华。

差别水份含量的氣體在差别溫度下的鏡面上會結露。接纳光電檢測技術,檢測出露層并測量結露時的溫度,间接顯示露點。鏡面制冷的办法有:半導體制冷、液氮制冷和高壓空氣制冷。鏡面式露點儀接纳的是间接測量办法,在保證檢露準确、鏡面制冷高服从和精细測量結露溫度条件下,該種露點儀可作爲标準露點儀运用。现在國際上最高精度達到±0.1℃(露點溫度),普通精度可達到±0.5℃以内。

5.紅外露點儀

4.晶體振蕩式露點儀

技術進展的綜合評估

6.半導體傳感器露點儀每個水分子都具有其天然振動頻率,當它進入半導體晶格的清闲時,就和遭到充電激勵的晶格産生共振,其共振頻率與水的摩爾數成反比。水分子的共振能使半導體結放出自在電子,從而使晶格的導電率增大,阻抗減小。应用這一特性設計的半導體露點儀可測到-100℃露點的微量水份。

接纳親水性资料或憎水性资料作爲介質,構成電容或電阻,在含水份的氣體流經後,介電常數或電導率發生相應變化,測出當時的電容值或電阻值,就能晓得當時的氣體水份含量。树立在露點單位制上設計的該類傳感器,構成了電傳感器式露點剖析儀。现在國際上最高精度達到±1.0℃(露點溫度),普通精度可達到±3℃以内。

氣體中微量水份的測量曆來是較難的一門技術。可以說,直到現在國際上還沒有一種成熟美满的技術手腕能片面解決各種工況環境下微量水的測量問題。在應用了近代技術之後,也隻能說針對某一特定環境,接纳某一項技術手腕,解決某種水平(包罗量程和精度)的微水份測量問題。因而,微水份測量技術的發展远景還非常廣闊,專業技術人員要走的路還很長。

 

应用氣體中的水份對紅外光譜吸取的特性,可以設計紅外式露點儀。现在該儀器很難測到低露點,次要是紅外探測器的峰值探測率還不克不及達到微量水吸取的量級,還有氣體中其他成份含量對紅外光譜吸取的幹擾。但這是一項很新的技術,對于環境氣體水份含量的非接觸式在線監測具有紧张的意義。

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